Leitfähigkeit des Kanals
Der Leitwert eines Kanals wird typischerweise als das Verhältnis des durch den Kanal fließenden Stroms zur Spannung an ihm definiert.
Symbol: G
Messung: Elektrische LeitfähigkeitEinheit: mS
Notiz: Der Wert kann positiv oder negativ sein.
Mobilität von Elektronen an der Oberfläche des Kanals
Die Beweglichkeit von Elektronen an der Oberfläche eines Kanals bezieht sich auf die Fähigkeit von Elektronen, sich durch die Oberfläche eines Halbleitermaterials zu bewegen oder zu wandern, beispielsweise einen Siliziumkanal in einem Transistor.
Symbol: μs
Messung: MobilitätEinheit: m²/V*s
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Oxidkapazität
Die Oxidkapazität ist ein wichtiger Parameter, der die Leistung von MOS-Geräten beeinflusst, beispielsweise die Geschwindigkeit und den Stromverbrauch integrierter Schaltkreise.
Symbol: Cox
Messung: KapazitätEinheit: μF
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Kanalbreite
Die Kanalbreite bezieht sich auf den Frequenzbereich, der zur Übertragung von Daten über einen drahtlosen Kommunikationskanal verwendet wird. Sie wird auch als Bandbreite bezeichnet und in Hertz (Hz) gemessen.
Symbol: Wc
Messung: LängeEinheit: μm
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Kanallänge
Die Kanallänge bezieht sich auf den Abstand zwischen den Source- und Drain-Anschlüssen in einem Feldeffekttransistor (FET).
Symbol: L
Messung: LängeEinheit: μm
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Gate-Source-Spannung
Die Gate-Source-Spannung ist ein kritischer Parameter, der den Betrieb eines FET beeinflusst und häufig zur Steuerung des Geräteverhaltens verwendet wird.
Symbol: Vgs
Messung: Elektrisches PotenzialEinheit: V
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Grenzspannung
Die Schwellenspannung, auch bekannt als Gate-Schwellenspannung oder einfach Vth, ist ein kritischer Parameter beim Betrieb von Feldeffekttransistoren, die grundlegende Komponenten in der modernen Elektronik sind.
Symbol: Vth
Messung: Elektrisches PotenzialEinheit: V
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.