Condutância do Canal
A condutância do canal é normalmente definida como a razão entre a corrente que passa pelo canal e a tensão através dele.
Símbolo: G
Medição: Condutância ElétricaUnidade: mS
Observação: O valor pode ser positivo ou negativo.
Mobilidade de elétrons na superfície do canal
A mobilidade dos elétrons na superfície do canal refere-se à capacidade dos elétrons de se moverem ou viajarem através da superfície de um material semicondutor, como um canal de silício em um transistor.
Símbolo: μs
Medição: MobilidadeUnidade: m²/V*s
Observação: O valor deve ser maior que 0.
Capacitância de Óxido
A capacitância de óxido é um parâmetro importante que afeta o desempenho dos dispositivos MOS, como a velocidade e o consumo de energia dos circuitos integrados.
Símbolo: Cox
Medição: CapacitânciaUnidade: μF
Observação: O valor deve ser maior que 0.
Largura de banda
A largura do canal refere-se à faixa de frequências usada para transmitir dados através de um canal de comunicação sem fio. Também é conhecido como largura de banda e é medido em hertz (Hz).
Símbolo: Wc
Medição: ComprimentoUnidade: μm
Observação: O valor deve ser maior que 0.
Comprimento do canal
O comprimento do canal refere-se à distância entre os terminais de fonte e dreno em um transistor de efeito de campo (FET).
Símbolo: L
Medição: ComprimentoUnidade: μm
Observação: O valor deve ser maior que 0.
Tensão Gate-Fonte
A tensão gate-source é um parâmetro crítico que afeta a operação de um FET e é frequentemente usada para controlar o comportamento do dispositivo.
Símbolo: Vgs
Medição: Potencial elétricoUnidade: V
Observação: O valor deve ser maior que 0.
Tensão de limiar
A tensão limiar, também conhecida como tensão limiar da porta ou simplesmente Vth, é um parâmetro crítico na operação dos transistores de efeito de campo, que são componentes fundamentais da eletrônica moderna.
Símbolo: Vth
Medição: Potencial elétricoUnidade: V
Observação: O valor deve ser maior que 0.