Tensione di soglia aggiuntiva a canale stretto
La tensione di soglia aggiuntiva a canale stretto è definita come un contributo aggiuntivo alla tensione di soglia dovuto agli effetti a canale stretto nel MOSFET.
Simbolo: ΔVT0(nc)
Misurazione: Potenziale elettricoUnità: V
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Parametro empirico
Il parametro empirico è una costante o un valore utilizzato in un modello, un'equazione o una teoria che deriva da esperimenti e osservazioni anziché essere dedotto teoricamente.
Simbolo: k
Misurazione: NAUnità: Unitless
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Deplezione di massa in estensione verticale nel substrato
L'esaurimento di massa in estensione verticale nel substrato si riferisce alla profondità della regione di svuotamento nel substrato (massa) del MOSFET.
Simbolo: xdm
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Larghezza del canale
La larghezza del canale è definita come la larghezza fisica del canale del semiconduttore tra i terminali di source e drain all'interno della struttura del transistor.
Simbolo: Wc
Misurazione: LunghezzaUnità: μm
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Capacità di ossido per unità di area
La capacità di ossido per unità di area è definita come la capacità per unità di area dello strato di ossido isolante che separa il gate metallico dal materiale semiconduttore.
Simbolo: Coxide
Misurazione: Capacità di ossido per area unitariaUnità: μF/cm²
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Concentrazione dell'accettore
La concentrazione dell'accettore si riferisce alla concentrazione degli atomi droganti dell'accettore in un materiale semiconduttore.
Simbolo: NA
Misurazione: Concentrazione del portatoreUnità: 1/cm³
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Potenziale di superficie
Il potenziale superficiale è un parametro chiave nella valutazione delle proprietà CC dei transistor a film sottile.
Simbolo: Φs
Misurazione: Potenziale elettricoUnità: V
Nota: Il valore deve essere maggiore di 0.
Carica dell'elettrone
La carica dell'elettrone è una costante fisica fondamentale, che rappresenta la carica elettrica trasportata da un elettrone, che è la particella elementare con una carica elettrica negativa.
Simbolo: [Charge-e]
Valore: 1.60217662E-19 C
Permittività del vuoto
La permettività del vuoto è una costante fisica fondamentale che descrive la capacità del vuoto di consentire la trasmissione delle linee del campo elettrico.
Simbolo: [Permitivity-vacuum]
Valore: 8.85E-12 F/m
Permittività del silicio
La permettività del silicio misura la sua capacità di immagazzinare energia elettrica in un campo elettrico, fondamentale nella tecnologia dei semiconduttori.
Simbolo: [Permitivity-silicon]
Valore: 11.7