Smal kanaal extra drempelspanning
Narrow Channel Extra Threshold Voltage wordt gedefinieerd als een extra bijdrage aan de drempelspanning als gevolg van smalkanaaleffecten in MOSFET.
Symbool: ΔVT0(nc)
Meting: Elektrisch potentieelEenheid: V
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Empirische parameter
Empirische parameter is een constante of waarde die wordt gebruikt in een model, vergelijking of theorie die is afgeleid van experimenten en observatie in plaats van theoretisch te zijn afgeleid.
Symbool: k
Meting: NAEenheid: Unitless
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Verticale omvang van bulkdepletie in substraat
Verticale omvang Bulkdepletie in substraat verwijst naar de diepte van het depletiegebied in het substraat (bulk) van de MOSFET.
Symbool: xdm
Meting: LengteEenheid: μm
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Kanaalbreedte
Kanaalbreedte wordt gedefinieerd als de fysieke breedte van het halfgeleiderkanaal tussen de source- en drainterminals binnen de transistorstructuur.
Symbool: Wc
Meting: LengteEenheid: μm
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Oxidecapaciteit per oppervlakte-eenheid
Oxidecapaciteit per oppervlakte-eenheid wordt gedefinieerd als de capaciteit per oppervlakte-eenheid van de isolerende oxidelaag die de metalen poort scheidt van het halfgeleidermateriaal.
Symbool: Coxide
Meting: Oxidecapaciteit per oppervlakte-eenheidEenheid: μF/cm²
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Acceptorconcentratie
Acceptorconcentratie verwijst naar de concentratie van acceptor-doteringsatomen in een halfgeleidermateriaal.
Symbool: NA
Meting: Drager ConcentratieEenheid: 1/cm³
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Oppervlaktepotentieel
Oppervlaktepotentieel is een sleutelparameter bij het evalueren van de DC-eigenschap van dunnefilmtransistors.
Symbool: Φs
Meting: Elektrisch potentieelEenheid: V
Opmerking: De waarde moet groter zijn dan 0.
Lading van elektron
De lading van een elektron is een fundamentele fysische constante, die de elektrische lading vertegenwoordigt die wordt gedragen door een elektron, het elementaire deeltje met een negatieve elektrische lading.
Symbool: [Charge-e]
Waarde: 1.60217662E-19 C
Permittiviteit van vacuüm
Permittiviteit van vacuüm is een fundamentele fysische constante die het vermogen van een vacuüm beschrijft om de transmissie van elektrische veldlijnen mogelijk te maken.
Symbool: [Permitivity-vacuum]
Waarde: 8.85E-12 F/m
Permittiviteit van silicium
De permittiviteit van silicium meet het vermogen ervan om elektrische energie op te slaan in een elektrisch veld, wat essentieel is in de halfgeleidertechnologie.
Symbool: [Permitivity-silicon]
Waarde: 11.7