Sperrschichtkapazität
Unter Übergangskapazität versteht man die Kapazität, die dem pn-Übergang zugeordnet ist, der zwischen zwei Halbleiterbereichen in einem Halbleiterbauelement, beispielsweise einer Diode oder einem Transistor, gebildet wird.
Symbol: Cj
Messung: KapazitätEinheit: fF
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
PN-Kreuzungsgebiet
Der PN-Übergangsbereich ist der Grenz- oder Grenzflächenbereich zwischen zwei Arten von Halbleitermaterialien in einer pn-Diode.
Symbol: Apn
Messung: BereichEinheit: µm²
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Relative Permittivität
Die relative Permittivität ist ein Maß für die Fähigkeit eines Materials, elektrische Energie in einem elektrischen Feld zu speichern.
Symbol: εr
Messung: PermittivitätEinheit: F/m
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Spannung am PN-Anschluss
Die Spannung am PN-Übergang ist das eingebaute Potenzial am PN-Übergang eines Halbleiters ohne externe Vorspannung.
Symbol: V0
Messung: Elektrisches PotenzialEinheit: V
Notiz: Der Wert sollte zwischen 0.3 und 0.8 liegen.
Sperrspannung
Die Sperrvorspannung ist die negative externe Spannung, die an den pn-Übergang angelegt wird.
Symbol: V
Messung: Elektrisches PotenzialEinheit: V
Notiz: Der Wert sollte kleiner als 0 sein.
Akzeptorkonzentration
Unter Akzeptorkonzentration versteht man die Konzentration von Akzeptor-Dotierstoffatomen in einem Halbleitermaterial.
Symbol: NA
Messung: TrägerkonzentrationEinheit: 1/m³
Notiz: Der Wert sollte größer als 0 sein.
Spenderkonzentration
Unter Donatorkonzentration versteht man die Konzentration von Donator-Dotierstoffatomen, die in ein Halbleitermaterial eingebracht werden, um die Anzahl freier Elektronen zu erhöhen.
Symbol: ND
Messung: TrägerkonzentrationEinheit: 1/m³
Notiz: Der Wert kann positiv oder negativ sein.
Ladung eines Elektrons
Die Ladung eines Elektrons ist eine grundlegende physikalische Konstante, die die elektrische Ladung eines Elektrons darstellt, bei dem es sich um ein Elementarteilchen mit einer negativen elektrischen Ladung handelt.
Symbol: [Charge-e]
Wert: 1.60217662E-19 C
Permittivität von Silizium
Die Permittivität von Silizium misst seine Fähigkeit, elektrische Energie in einem elektrischen Feld zu speichern, was in der Halbleitertechnologie von entscheidender Bedeutung ist.
Symbol: [Permitivity-silicon]
Wert: 11.7