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Conception et applications CMOS
Capacité de retard dans Conception et applications CMOS Formules
La capacité de retard représente la capacité dans l’étage actuel, qui est la capacité totale au niveau du nœud de sortie. Et est désigné par C
d
. Capacité de retard est généralement mesuré à l'aide du microfarades pour Capacitance. Notez que la valeur de Capacité de retard est toujours positif.
Formules Conception et applications CMOS qui utilisent Capacité de retard
f
x
Augmentation du retard
va
FAQ
Qu'est-ce que Capacité de retard ?
La capacité de retard représente la capacité dans l’étage actuel, qui est la capacité totale au niveau du nœud de sortie. Capacité de retard est généralement mesuré à l'aide du microfarades pour Capacitance. Notez que la valeur de Capacité de retard est toujours positif.
Le Capacité de retard peut-il être négatif ?
Non, le Capacité de retard, mesuré dans Capacitance ne peut pas, peut être négatif.
Quelle unité est utilisée pour mesurer Capacité de retard ?
Capacité de retard est généralement mesuré à l'aide de microfarades[μF] pour Capacitance. Farad[μF], Kilofarad[μF], Millifarad[μF] sont les quelques autres unités dans lesquelles Capacité de retard peut être mesuré.
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