Conductividad óhmica
La conductividad óhmica es la medida de la capacidad del material para pasar el flujo de corriente eléctrica. La conductividad eléctrica difiere de un material a otro.
Símbolo: σ
Medición: Conductividad eléctricaUnidad: mho/cm
Nota: El valor debe ser mayor que 0.
Cargar
Carga característica de una unidad de materia que expresa en qué medida tiene más o menos electrones que protones.
Símbolo: q
Medición: Carga eléctricaUnidad: mC
Nota: El valor debe ser mayor que 0.
Movilidad del silicio con dopaje electrónico
La movilidad del silicio con dopaje electrónico caracteriza la rapidez con la que un electrón puede moverse a través de un metal o semiconductor cuando es atraído por un campo eléctrico.
Símbolo: μn
Medición: MovilidadUnidad: cm²/V*s
Nota: El valor debe ser mayor que 0.
Concentración de electrones
La concentración de electrones está influenciada por varios factores, como la temperatura, las impurezas o dopantes agregados al material semiconductor y los campos eléctricos o magnéticos externos.
Símbolo: ne
Medición: Concentración de portadoresUnidad: 1/cm³
Nota: El valor debe ser mayor que 0.
Movilidad de silicio con dopaje de orificios
La movilidad del silicio con dopaje de huecos es la capacidad de un hueco de viajar a través de un metal o semiconductor en presencia de un campo eléctrico aplicado.
Símbolo: μp
Medición: MovilidadUnidad: cm²/V*s
Nota: El valor debe ser mayor que 0.
Concentración de agujeros
La concentración de huecos implica una mayor cantidad de portadores de carga disponibles en el material, lo que afecta su conductividad y varios dispositivos semiconductores.
Símbolo: p
Medición: Concentración de portadoresUnidad: 1/cm³
Nota: El valor debe ser mayor que 0.